珠寶珍珠專用高精度雙晶片數位測厚儀 (0-12.7mm)

請注意：不含電池！

採用先進雙晶片技術，體驗更快速、無暇的測量
使用我們高度先進的 0-12.7mm 數位測厚儀升級您的測量工具箱。這款測量工具配備尖端的雙晶片處理器，可提供極速的計算速度、卓越的穩定性和無延遲的讀數。無論您是測量珍貴的珍珠、精緻的珠寶還是工業材料，這款測厚儀都能提供您值得信賴的專業級精度。

主要特點與優勢：

• 先進雙晶片處理器：升級後的雙晶片架構可確保瞬時數據處理和高度穩定的讀數，消除螢幕閃爍和測量延遲。

• 無損扁頭設計：專用的平頭測量面可牢牢夾住您的物品，而不會刮傷或凹陷精緻的表面，非常適合珍珠、翡翠和拋光寶石。

• 量身定製的精度選擇：具有高度通用的 0-12.7mm 測量範圍，您可以選擇所需的精確精度級別——提供超高精度 (0.001mm) 機型。

• 清晰的數位顯示屏：告別類比錶盤的猜測。大尺寸 LCD 螢幕提供即時、易讀的數字結果。

• 人體工學與堅固結構：專為穩定性而打造。重量約 400g，佔地面積小，手感非常結實，確保穩定握持以進行精確測量。

非常適合：

• 珠寶工藝（珍珠、翡翠、寶石）

• 紙張、紙板和薄膜厚度檢查

• 皮革製品和紡織品

• 金屬片與線材測量

技術規格：

• 測量範圍：0 - 12.7mm

• 核心技術：升級版雙晶片處理器

• 測量頭：扁頭

• 解析度/精度選擇：0.001mm

• 電源： CR2032 3V 電池（不含！）

• 尺寸：120mm x 99.5mm x 12mm

• 重量：415g

包裝清單：
1 x 雙晶片數位測厚儀 (0-12.7mm)